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【網絡研討會 火熱報名】利用功率循環IGBT預測器件使用壽命

日期:2016-06-12

尊敬的先生/女士

我們誠邀您參加【介紹IGBT和功率半導體應用使用壽命估算】的實時在線演講。 其中將重點介紹如何通過定義主動式功率循環測試來反映真實使用情況,即器件結溫周期性變化會產生的熱機應力,并由此導致的故障。這與在許多應用中執行可靠性和使用壽命研究息息相關,包括汽車的電動動力系統、軌道牽引、傳輸可再生能源等。本次在線研討會全程免費且提供額外的答疑時間,供各位針對應用進行提問。

 

 

 
會議主題
 
利用功率循環測試對功率器件進行基于任務數據圖表的使用壽命估算

 

會議時間
 
2016年6月29日 星期三 北京時間 15:00-16:00(下午)

 

會議地點
 
在線網絡視頻

 

學習內容
 
常見功率半導體封裝失效模式

• 主動式功率循環過程和類型選擇

• 如何在主動式功率循環過程中識別老化

• 熱量累積故障診斷:熱阻-熱容曲線(結構函數)

• 根據功率器件在最終應用中的使用情況(任務數據圖表)估算其壽命的方法

 

受益對象
 

• 封裝設計人員

• 質量工程師

• 可靠性工程師

• 電力牽引領域的質量經理

• 任何對電力電子器件熱設計挑戰感興趣的人士

 

演講嘉賓
 

Andras Vass-Varnai
Andras 于 2007 年獲得布達佩斯科技經濟大學電子工程碩士學位。他還是布達佩斯科技經濟大學相關專業的博士生。他的主要議題包括電子系統的熱管理、瞬態熱測試的高級應用、TIM 材料以及大功率半導體器件的特征提取。

王力
王力畢業于中山大學,2010年獲得光學工程專業碩士學位。2011年加入上海坤道信息技術有限公司擔任高級技術支持工程師,負責熱阻測試設備T3Ster、功率測試設備Power Tester、反射率熱成像設備Microsanj的技術支持工作。

 

報名方式
 

1. 點擊右側鏈接報名參會:http://www.awsaww.cn/huiyi.aspx

2. 回復【姓名+單位+職位+電話+郵箱】至郵箱marketing@simu-cad.com

 

報名成功后,您將收到一封確認郵件,內含網絡會議登錄鏈接。該通道將在會議前15分鐘打開。請注意查收郵件,若未收到郵件,請通過以下方式聯系我們:
電話:021-62157100-107
郵箱:marketing@simu-cad.com

 

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